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清潔度檢測空白試驗

型號:

產品時間:2020-07-16

簡要描述:

清潔度檢測空白試驗
重量限值:低于假定分析重量的10%
注釋:在非受控的環境條件下(非受控的濕度和溫度),使用一個四位天平,Z小可空白試驗值為0.3mg。因此為了滿足10%標準,在部件試驗期間應當至少收集到3mg。

詳細介紹

清潔度檢測空白試驗

1、重量限值:低于假定分析重量的10%
注釋:在非受控的環境條件下(非受控的濕度和溫度),使用一個四位天平,蕞小可空白試驗值為0.3mg。因此為了滿足10%標準,在部件試驗期間應當至少收集到3mg。

2、顆粒數限值:按照相關尺寸,小于假定或者規定數量的10%,各個計算數字均下舍入,
示例:
對于一個粒度,規定數量為16,16*10%=1.6 舍入值=1
結論,空白可接受一個微粒
注釋:空白檢驗文件中所規定的粒度應當盡可能接近部件所能接受的蕞大粒度,并且予以選定,從而能夠計算出有效的微粒數量。

3、蕞大顆粒:IS0 16232-10粒度范圍的微粒剛剛低于假定或者規定蕞大顆粒的二分之一
示例:蕞大可接受粒度X=350um,350um/2=175um  
這是ISO 16232-10所規定的粒度等級G,緊接著較低粒度等級為F級,也就是說對于空白來說,沒有微粒大于100um。

4、如果空白水平超過了10%,那么可以提高分析的試驗部件的數量,從而可以收集到更多的微粒,以便來滿足10%的極限。

關于清潔度檢測空白試驗及衰減測試詳情,請咨詢供應商代表,我們將竭誠為您服務!

 


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